180-1531-4762
180-1531-4762
为高精度工业质检开发的新一代静态2D计算机断层成像系统，搭载多级滤波可调射线源与高动态范围平板探测器。
亚微米级缺陷捕捉
解决精密器件内部缺陷检出痛点
高效动态扫描
提升检测效率100%
工业级低耗设备
即装即用降低部署成本
| 类别 | 项目 | 参数 |
|---|---|---|
| 平板探测器 | 像素尺寸 | 85μm |
| 像素矩阵 | 1536*1536 | |
| 图像帧率 | 20fps | |
| 有效面积(mm) | 130x130 | |
| X射线源 | 光管类型 | 封闭式 |
| 光管电压 | 40-90kV/40-130kV | |
| 光管电流 | 100-200μA/100-300μA | |
| 微焦点尺寸 | 5-15μm | |
| 最大输出功率 | 8W/39W | |
| 整机参数 | 最大载物尺寸(mm) | 650x650 |
| 最大检测尺寸(mm) | 530x530 | |
| 可搭载重量 | MAX 10kg | |
| X/Y/Z1/Z2 行程 (mm) | 530/530/210/150 | |
| 倾斜角度 | ±30° | |
| 系统放大倍率 | 600X | |
| 外形尺寸 (mm) | 1300x1450x1650 (WxDxH) | |
| 重量 | 1600kg | |
| 电源电压 | 220AC/50HZ | |
| 功率 | 2kW |
